СТРУКТУРЫ КЛАСТЕРОВ SinOm +, РАСПЫЛЕННЫХ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКОЙ

Авторы

  • С.Е. Максимов Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • Х.Б. Ашуров Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • М.М. Адилов Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • С.Ф. Коваленко Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • О.Ф. Тукфатуллин Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • Ш.Т. Хожиев Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз

Аннотация

С использованием ионного микроанализатора с двойной фокусировкой обратной геометрии исследованы кластеры SinOm+, распыленные с поверхности Si ионами Xe+ при напуске кислорода на поверхность. Представлены предполагаемые структурные схемы кластерных катионов, проведено сравнение со структурами нейтралей и анионных кластеров оксида кремния.

Загрузки

Опубликован

2019-10-21

Как цитировать

Максимов, С., Ашуров, Х., Адилов, М., Коваленко, С., Тукфатуллин, О., & Хожиев, Ш. (2019). СТРУКТУРЫ КЛАСТЕРОВ SinOm +, РАСПЫЛЕННЫХ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКОЙ. «Узбекский физический журнал», 21(5), 283–292. извлечено от http://ufj.uz/index.php/ufj/article/view/131

Выпуск

Раздел

03. Физическая электроника. Физическая кинетика и физика плазмы

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)