ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ СВОБОДНЫХ НАНОПЛЕНОЧНЫХ СИСТЕМ Si-Cu

Авторы

  • И.О. Касимов Ташкентский государственный технический университет
  • Б.Е. Умирзаков Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • З.А. Исаханов Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • М.К. Рузибаева Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
  • Р. Курбанов Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз

DOI:

https://doi.org/10.52304/.v21i3.75

Аннотация

В работе приведены экспериментальные результаты, полученные методом спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (СХПЭЭ), по изучению состава, электронной структуры Cu(100) с поверхностной нанопленкой Si различной толщины (dSi≈50−400 Å). Показано, что плотности состояний валентных электронов толстой и свободной тонкой пленок заметно отличаются друг от друга.

Загрузки

Опубликован

2019-06-21

Как цитировать

Касимов, И., Умирзаков, Б., Исаханов, З., Рузибаева, М., & Курбанов, Р. (2019). ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ СВОБОДНЫХ НАНОПЛЕНОЧНЫХ СИСТЕМ Si-Cu. «Узбекский физический журнал», 21(3), 158–160. https://doi.org/10.52304/.v21i3.75

Выпуск

Раздел

05. Оптика и спектроскопия. Лазерная физика. Нелинейная оптика

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)