ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ СВОБОДНЫХ НАНОПЛЕНОЧНЫХ СИСТЕМ Si-Cu
DOI:
https://doi.org/10.52304/.v21i3.75Аннотация
В работе приведены экспериментальные результаты, полученные методом спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (СХПЭЭ), по изучению состава, электронной структуры Cu(100) с поверхностной нанопленкой Si различной толщины (dSi≈50−400 Å). Показано, что плотности состояний валентных электронов толстой и свободной тонкой пленок заметно отличаются друг от друга.
Загрузки
Опубликован
2019-06-21
Как цитировать
Касимов, И., Умирзаков, Б., Исаханов, З., Рузибаева, М., & Курбанов, Р. (2019). ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ СВОБОДНЫХ НАНОПЛЕНОЧНЫХ СИСТЕМ Si-Cu. «Узбекский физический журнал», 21(3), 158–160. https://doi.org/10.52304/.v21i3.75
Выпуск
Раздел
05. Оптика и спектроскопия. Лазерная физика. Нелинейная оптика
