СТРУКТУРЫ КЛАСТЕРОВ SinOm +, РАСПЫЛЕННЫХ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКОЙ

С.Е. Максимов; Х.Б. Ашуров; М.М. Адилов; С.Ф. Коваленко; О.Ф. Тукфатуллин; Ш.Т. Хожиев

doi:10.52304/.v21i5.131

СТРУКТУРЫ КЛАСТЕРОВ SinOm +, РАСПЫЛЕННЫХ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКОЙ

Авторы

С.Е. Максимов Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
Х.Б. Ашуров Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
М.М. Адилов Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
С.Ф. Коваленко Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
О.Ф. Тукфатуллин Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз
Ш.Т. Хожиев Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз

DOI:

https://doi.org/10.52304/.v21i5.131

Аннотация

С использованием ионного микроанализатора с двойной фокусировкой обратной геометрии исследованы кластеры Si_nO_m⁺, распыленные с поверхности Si ионами Xe⁺ при напуске кислорода на поверхность. Представлены предполагаемые структурные схемы кластерных катионов, проведено сравнение со структурами нейтралей и анионных кластеров оксида кремния.

Загрузки

Опубликован

2019-10-21

Как цитировать

Максимов, С., Ашуров, Х., Адилов, М., Коваленко, С., Тукфатуллин, О., & Хожиев, Ш. (2019). СТРУКТУРЫ КЛАСТЕРОВ SinOm +, РАСПЫЛЕННЫХ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКОЙ. «Узбекский физический журнал», 21(5), 283–292. https://doi.org/10.52304/.v21i5.131